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一、BGA连接焊盘Pad图形和电路板的考量 连接盘 图形是印制电路板的铜表面区域，它提供了元 器件的机械连接及其引线或端子的电气连接。连接盘图形对制造来说是重要的，因为连接盘 的尺寸大小会影响焊点的一致性和可靠性，同 时也会影响清洁性和可测试性。连接盘图形对 栅阵列元器件更加重要，因为栅阵列元器件焊 点的检验和维修／返工难度更大，因此需要搞 清楚BGA连接盘的设计问题。有必要确保形成 适当的焊点以避免如桥连、开路这样的缺陷而 达到最佳可靠性。以前连接盘图形设计是困难 的，因为元器件相关尺寸缺少标准化，同时也没有可接受公差的规定。最近在标准化方面已 作了很多努力，标准IPC-7351－表面贴装设计 和连接盘图形标准的通用要求中，可找到用于 设计不同连接盘图形的三层结构规则。 BGA的连接盘可以是阻焊膜限定（SMD），即阻焊膜覆盖到部分连接盘；也可以是金属限定（MD），即阻焊膜远离连接盘。以上两种方 法各有其优缺点，具体怎样选择通常取决于BGA 的节距（可能会影响连接盘尺寸）或者BGA的 尺寸大小（可能会影响器件质量）。因为MD阻 焊膜可避免焊球塌陷时出现应力裂纹的机会， 这些条件有助于金属限定（MD）的热应力可靠 性。也因为SMD型阻焊膜帮助连接盘附着在层 压板上，这有助于阻焊膜限定（SMD）的机械 冲击可靠性。印制板制造商和组装厂必须要解 决连接盘尺寸问题、可兼容的表面处理问题、 阻焊膜的对准问题以及电气测试问题。但在选 择合适的焊料合金和焊膏性质、开发温度曲线 以及针对广泛多样的印制板和元器件类型开发 一致的工艺方面，组装厂有更多的挑战。 尽管电子工业界持续报道已开发出越来越多引 脚数的新器件，但业内运用得最多的元器件其 引脚数还是在16至64个输入/输出端（I/O，以 下用英文简称）的范围之内。超过50%的元器件 的引脚数都在此范围之内，同时只有5%的元器件会超过208个I/Os，外围引线型封装和阵列型封 装的引线数量会有交叉。许多外围引线器件， 如存储器或者逻辑器件，已经被转换成了面阵列 封装形式，比如BGAs、密节距BGA或者其它类 似形式的底部端子元器件。（参见IPC-7093） 尽管高I/O数元器件在电子组件上的应用百分比 还很小，但它们在推动印制板和组装生产的工 业基础方面起了重要的作用。这些高I/O数元器 件决定了裸板成像、蚀刻、测试以及表面处理 的工艺，它们确定用于制造的材料同时也以类 似的方式推动了组装工艺的改善。除了连接盘 设计，我们还需注意到BGA的内排引脚需要额 外的互连层。增加引脚（通孔）数会因为减少 布线通道使得层数增加，层数的增加代表着裸 板制造成本的增加。电子工业界已经运用通孔 组装技术，这种技术将元器件引线插入孔中而 在印制板的底部和镀覆孔中形成焊接。表面贴 装技术（SMT）已经发展到绝大多数电子元器 件只有其表面贴装（SMT)的形式。 运用表面贴装技术SMT进行大规模产品制造需 要自动化设备。对于小规模生产，手工操作设备 或是单个贴片机可能是足够的。但大批量SMT 制造需要特别的焊膏沉积系统、多种贴片机组 合、在线的再流焊系统以及清洁系统。 表面贴装制造的核心是焊接前可将元器件放置 在印制板连接盘区域的设备。不同于通孔元件 插件机，表面贴装设备通常能贴装许多不同类 型的元器件。随着设计密度的增加，演化出SMT 新封装类型。这方面的例子有许多，比如密节 距技术(FPT)、超密节距技术(UFPT)以及阵列 表面贴装(ASM)。后者涵盖了许多种类的球或 柱栅阵列、芯片尺寸封装(CSP)、密节距BGAs (FBGA)以及倒装芯片应用(FC)。这些元器件 可由相应定位精度的机器贴装。 元器件复杂度的增加是表面贴装技术的主要驱 动因素。为了减少元器件的封装尺寸，元器件 的引线间距已减少（如从1.27mm到0.65mm）。在将来由于半导体集成度的进一步增加，所需 要的I/O端口数会超过196个，这会使得封装周 边的引线间距更小，如0.5mm、0.4mm、0.3mm 甚至0.25mm。但阵列封装已获得高I/O数器件的 青睐。早期封装形式为面阵列元器件的节距比等效的外围引线器件的节距要大得多，然而， 如今已看到这种形式的节距配置正在减小。 1992年，球和柱栅阵列已有标准化，其节距为 1.5mm、1.27mm和1.0mm。密节距BGA阵列封装 指定的标准节距则为1.0mm、0.8mm、0.75mm、 0.65mm和0.5mm。目前有一些FBGA的节距已经 可减小至0.4mm，具有0.3mm乃至0.25mm节距 的未来元器件正在评估中。尽管IPC-7351中已有 BGA及其相关连接盘图形的标准配置，为了提 升元器件在基板上的互连性能，一些元器件制 造商修改了标准配置。裁剪标准的几何图形尺 寸时，要核对制造商的技术规范以确定节距、 焊球尺寸以及焊球空缺位置（将焊球去除）等 精确特性是重要的。 有一个问题是介于1mm和0.5mm的引线节距是多 少？有人表示应采用60%规则，即焊球直径是节 距的60%。直径为0.5mm的焊球需要0.8mm的节 距，对于节距为0.65mm的FBGA所需的焊球直 径为0.4mm。另一方面，有人认为将FBGA焊球直径标准化为0.3mm会更好。焊球尺寸的标准化 可以简化连接盘图形的研发，使互连基板上的 布线通道更一致，同时有助于标准化该器件I/O 的插座接触插针的互连设计。所有这些情况都 会受焊球直径和焊球节距所影响。采用标准化 的节距和焊球直径加上移除不需要端子的能力 可使设计的一致性更好，如下图右侧所示。如下图左侧图示的阵列变化趋势促使要创造许多测 试插座。 元器件I/O的互连会受焊球节距和焊球 直径的影响。由JEDEC(电子器件工程联合会)属 下的JC11委员会制订的焊球直径标准减轻了基 板设计的压力。阵列封装允许多种焊球布局， 如错列布局或空缺布局，为线条走线提供了所 需的空间。采用通用基础的阵列节距，获得的 显著优点在于为元器件、插座、基板以及测试 系统等电子制造架构的所有要素提供了协调的标准。（可见于下图）对于电子组装的元器件选 择，应尽量减少封装类型和引脚节距的差异。高 I/O端子数和密节距外围封装的组装问题已经引 起了封装类型和组装复杂性之间以及印制板互 连和表面特征之间关系的重新思考。
使用这些极其复杂的元器件会涉及到印制板设 计以及组装问题。组装关注的是要连接所有引 线到安装结构而没有桥连（短路）以及漏焊（开路）。而设计的着眼点放在使各引线能够正 确互连以及布线有充足的空间。 二、技术⽐较 在有机载体封装上进行单个 芯片安装的原理也可以运用到一起连接几个芯 片的 情 况。这项技术被称为层压多芯片模块 （MCM-L）或多芯片封装(MCP)，也可用新名 称赋予复杂模块组件为多器件子组件(MDS)。从正研发的所有变化看，采用面阵列形式是一 个占主导地位的条件。因此，焊球尺寸和节距 会继续成为单个元器件或含有多个芯片的元器 件的工艺主导因素。表1表明了一些案例，试 图对多芯片模块单元（多于一个芯片）作出定 义，如下图则是一个运用面阵列概念进行互连的 产品案例。 表1：多芯片模块定义
其它可能的描述属性包括基板技术（例：-C代 表陶瓷，-L代表层压板，-D代表沉积，-W代表 晶圆，-S代表硅）和互连技术（例：-WB代表金 属线键合，-FC代表倒装芯片，-MX代表混装）。 微处理器通常有40%-60%的I/O端口专门用作电 源和接地。举例来说，I/O端口总数在1300-1400 的封装，其中的信号端口数在600至700之间。专用集成电路（ASICS） 可能会有不同的I/O端 口分配方式。 I/O端口的信号出线并与其它高I/O数封装互 连，也将需要高密度互连技术（HDI）。随着芯片 I/O端口数进一步的增加，单个芯片的尺寸可能 会大到超出可接受范围，此时就需要对封装的 整体方案做重新评估，包括考虑多芯片模块封装或专用模块封装（ASMP）作为替代方案。高 性能BGA的I/O信号端口数大致为普通手持设备 所需BGA的2.5倍。互连密度的要求与每个封装 的信号端口数成正比，同时与相邻封装间中心至 中心的节距成反比。I/O信号端口数从500变化 到1300有2.5倍的增加，在封装间距相同的情况 下，要求印制板布线密度也有2.5倍的增加，层 间通孔或镀覆孔（PTHS）密度也会成比例的增 加。因此有可能需要减少镀覆孔/通孔的节距， 同时增加印制板上的信号层数。 随着越来越多定制电路芯片的出现以及元器件 封装尺寸的增加，印制板设计需要改变。更多的 I/O端口数会需要多层或者高密度互连（微导通 孔）设计，以支持所需的布线以及提供从阵列 器件的内部连接图形到印制板之间的走线。印 制板的两面都需要按设计安装所有元器件，这 也会增加对印制板功耗处理的需求。 如不增加印制板复杂度及为此带来的成本，使用 高I/O数端口的器件如BGA以及密节距FBGA会 给信号、电源以及接地I/O焊料球所有需连接至 印制板的布线产生挑战。考虑周到的封装引脚 分配和封装布局（包括节距、焊球尺寸、焊球 数目和焊球缺失）会大大便于电路板布线。 假设引线布局适当、出线设计仔细，即使对于 焊球数目较高的BGA而言，双层互连信号设计 对于BGA封装的出线是充足的。表3-2表示双层 电路中可能出线数与阵列尺寸以及连接盘/导通 孔间导线数目的关系。需要指出的是，当I/O数 增加时，出线能力会随之下降，因此需要更多的 层数。表2从表面上看双层布线并不足以应付 16X16(256个球)以上的焊球阵列出线，但实际 上大量焊球会被用作电源和接地连接，所以这 些焊球并不需要出线。它们可以通过与连接盘 相连的狗骨通孔（Dogbone）与合适的等位面直 接相连。换言之，信号或者电源/接地焊球的不 合理的布局会“浪费”可用的布线通道，在层 数给定下大幅度减少可出线的总信号I/O数。表2 双层电路出线数与阵列尺⼨的关系 将信号引脚布局在阵列封装的外排，同时内部 焊球用作电源和接地将有助于出线。然而，大 型阵列封装位于边角的焊球更容易导致机械失 效，所以将这些焊球用作冗余接地比较好。能 出线的信号I/O排数取决于印制板上所需的布线 层数和在连接盘和导通孔之间可布的线路数。 下图5给出了导线宽度和间距宽度的示例，其适 合于各种节距和直径的相邻连接盘。值得注意的是，随着焊球节距的减少，每条通道中导线 数量一定时其线宽和间距也会随之减少。这种 情况会增加电路板制造的难度和成本。 采用150μm的线宽和间距成本最为合理，而采用 100μm线宽和间距的印制电路板，其成本会显著提高。在塑封BGA上使用有机互连基板安装裸 芯片，基板安装连接盘与芯片的键合连接盘要 求相匹配。 键合连接盘通常用金属线键合定位，因为这是 最普遍的技术。用导热胶是将芯片背部粘接到 基板的方法之一。多层基板制造技术可以用来 将外围键合连接盘转化为凸点/球状/柱状面阵 列，这取决于I/O数和引线节距（见下图6）。 转化为面阵列布局方式的芯片键合连接盘允许 用倒装芯片结构安装。在这种情况下，芯片的安装方向与引线键合的情况正好相反，芯片上 的凸点会与将芯片图形转换为BGA图形的基板 直接接触。这种方式会给有机高密度微型电路 板制造商的布线要求带来新的挑战。此外，通 常需用底部填充来适应并缓和芯片与有机多层 电路板热膨胀系数(CTE)不匹配的问题。(见下图 7)
[color=var(--weui-FG-HALF)]三、组装设备影响 实施BGA技术需要一些新 的组装能力。为了将封装从矩阵托盘转移到拾 取位置，封装运载机构也需要改变，这取决于 贴装系统的类型。与密节距引线元器件相同， 也可用基准点帮助视觉系统辨别BGA连接盘图 形的精确位置。根据器件本体尺寸，卷带包装 的大型BGA器件需要规格为44mm和56mm的送 料器。优先采用强制空气对流的再流焊炉进行焊接。BGA的维修和检验相当困难的。配置有 焊膏沉积、预热及视觉功能的返修台不是必须 的，但却是非常有帮助的。X射线和光学检测能 力（内窥镜）有助于工艺开发。 四、模板(钢网)要求 当使用节距更小的BGA元器 件时，模板厚度需要减小。模板厚度和连接盘尺寸决定了焊膏体积，这对于陶瓷BGA是很重 要的。模板梯形开孔（在底部的开口略比顶部 大）有助于更好地使焊膏脱模。通常而言，对 于节距为1.25mm和1.00mm的大型BGA元器件， 由于开孔足够大，使得模板堵塞、印刷定位和 清晰度方面的问题比方形扁平封装（QFP）元器 件的要少。 为使模板开孔与密节距BGA的要求相匹配，需要 了解模板开孔和焊膏颗粒大小之间关系。随着相连的连接盘图形尺寸以及它们的节距越来越 小，标准IPC-7525提供了详细的说明以帮助作 出合适的决定。 五、检验要求 同任何表面贴装元器件一样， BGA一旦贴装完毕就不可移动，因为这会使焊 膏模糊而造成桥接。尽管有些偏移目检即可发 现，但如果元器件的焊端与连接盘的偏移不大于 50%，许多元器件在再流焊过程中会自动对准。如果BGA有严重的偏移问题，则应该在再流焊之 前将其从电路板上移除，并在之后进行返工。尽管对于大批量生产并不实际，在拆除BGA之 前用X射线或者光学检测仪器（内窥镜）进行不 良检查或许是需要的。 六、测试 在使用BGA前要开发测试方案。由于焊点不能直接探测到，所以设计测试点是必要的，但配置足够多的测试点对所有焊点进 行完全测试可能有困难。需要一些替代测试方 案，如在BGA器件内设计边界扫描功能，减少 I/O扇出探测点的数量。为了改善测试能力，有 的BGA在其封装顶部设置了测试点。这并不是 个好方案，因为它对BGA元器件及其焊点施加了压力。
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发表于 2024-8-31 11:09:06
